ШЛИPEH-MЕТОД, метод Теплер а, метод обнаружения оптич. неоднородностей в прозрачных преломляющих средах и дефектов отражающих поверхностей. Применяется для нахождения т. н. свилей в оптически прозрачных материалах, для исследования качества зеркал и др. оптич. деталей. Ш.-м. применяют для исследования распределения плотности возд. потоков, образующихся при обтекании моделей в аэродинамических трубах, используют для проекции на экран изображений (получаемых в виде оптич. неоднородностей) в пузырьковых камерах, в телевиз. системах проекции на большой экран, в системах воспроизведения изображений с термопластич. и везикулярных фотоматериалов и др. Ш.-м. предложен нем. учёным А. Тендером в 1867.

В Ш.-м. пучок лучей от точечного или щелевого источника света, линзой или системой линз и зеркал направляется через исследуемый объект и фокусируется на непрозрачной ширме с острой кромкой (на т. н. ноже Фуко), так что изображение источника проектируется на самом краю ширмы. Если в исследуемом объекте нет оптич. неоднородностей, то все лучи задерживаются ширмой. При наличии оптич. неоднородности лучи будут рассеиваться ею и часть их, отклонившись, пройдёт выше края ширмы. Поставив за ширмой проекционный объектив, можно спроектировать на экран эти лучи и получить изображение тех неоднородностей, к-рые рассеивали лучи. Оптич. неоднородности можно непосредственно наблюдать глазом, если вместо проекц. объектива поставить окуляр и смотреть через него на объект. Иногда вместо точечного источника света и ножа Фуко применяют оптически сопряжённые решётки (растры), перекрывающие ход лучам при отсутствии на их пути неоднородностей. Применяются также решётки со щелями в виде цветных светофильтров, позволяющие нагляднее определять характер оптич. неоднородностей. Получение более грубой (теневой) картины зон резкого изменения оптич. плотности объекта возможно без перекрытия лучей ножом Фуко или решётками. Просвечивание объекта двумя оптич. системами, установленными под углом друг к другу, позволяет получать стереоскопич. картину распределения неоднородностей в объекте.

Лит.: Васильев Jl. А., Теневые методы, M., 1968; В а л ю с H. А., Растровые оптические приборы, M., 1966. H. А. Вилюе.

По материалам БСЭ.